一、SHHZJS9000G雙變頻介質(zhì)損耗分析儀概   述

介損測(cè)試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損測(cè)試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?/span>50Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測(cè)試絕緣油介質(zhì)損耗。

儀器主要具有如下特點(diǎn)：

絕緣電阻測(cè)試

儀器集成絕緣電阻測(cè)試模塊，可進(jìn)行極化指數(shù)、吸收比以及絕緣電阻的測(cè)試。

LCR全自動(dòng)測(cè)量

全自動(dòng)電感、電容、電阻測(cè)量，角度顯示。

多種測(cè)試模式

儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試；在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗。

CVT測(cè)試一步到位

該儀器還可以測(cè)試全密封的CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的介損和電容量，實(shí)現(xiàn)了C1、C2的同時(shí)測(cè)試。該儀器還可以測(cè)試CVT變比和電壓角差。

不拆高壓引線測(cè)量CVT

儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測(cè)量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。

CVT反接屏蔽法測(cè)量C0

儀器可采用反接屏蔽法測(cè)量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。

多重保護(hù)安全可靠

儀器具備輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過(guò)壓、過(guò)流、溫度等多重保護(hù)措施，保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測(cè)功能，確保不接地設(shè)備不允許升壓。

高速采樣信號(hào)

儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制，輸出電壓連續(xù)可調(diào)。

海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器，保存數(shù)據(jù)200組，能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存，隨時(shí)可以查看歷史記錄，并可以打印輸出。

超大液晶中文顯示

操作簡(jiǎn)單，儀器配備了優(yōu)異的全觸摸液晶顯示屏，超大全觸摸操作界面，每過(guò)程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點(diǎn)擊一下就能完成整個(gè)過(guò)程的測(cè)量，是目前非常理想的智能型介損測(cè)量設(shè)備。

二、SHHZJS9000G雙變頻介質(zhì)損耗分析儀工作原理

                   圖 2—1  測(cè)量原理圖

三、主要技術(shù)參數(shù)

四、面板說(shuō)明

1.緊急停機(jī)按鈕及高壓指示燈

2.復(fù)位按鈕

3.U盤(pán)接口

4.總電源開(kāi)關(guān)

5.AC220V電源輸入插座

6.標(biāo)準(zhǔn)電容輸入插座

7.Cx：試品輸入插座

8.觸摸顯示屏

9.接地接線柱

10.ES自激輸出

11.打印機(jī)

12.高壓輸出HV插座

4.1、緊急停機(jī)按鈕及高壓指示燈

安裝位置：如圖4—1— eq \o\ac(○,1)1。

功    能：在儀器測(cè)試過(guò)程中有高壓輸出時(shí)，遇緊急情況需要斷開(kāi)高壓輸出，即可按下緊急停機(jī)按鈕立即從內(nèi)部切斷高壓輸出；按鈕內(nèi)置指示燈作為高壓輸出指示燈。

4.2、復(fù)位按鈕

安裝位置：如圖4—1— eq \o\ac(○,2)2。

功    能：提供儀器復(fù)位功能。 

4.3、U盤(pán)接口

 安裝位置：如圖4—1—③。

功    能：可把儀器內(nèi)部保存的測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入并保存到U盤(pán)中。

注    意：數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程當(dāng)中嚴(yán)禁拔出U盤(pán)，只有當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸完畢后并且液晶屏上出現(xiàn)拔出U盤(pán)的提示后，方可拔出U盤(pán)，否則有可能燒毀U盤(pán)。

4.4、總電源開(kāi)關(guān)

 安裝位置：如圖4—1—④。

 功    能：打開(kāi)此關(guān)，儀器上電進(jìn)入工作狀態(tài)。關(guān)閉此開(kāi)關(guān)，也同時(shí)關(guān)閉儀器內(nèi)部所有電源系統(tǒng)，緊急情況應(yīng)立即關(guān)閉此開(kāi)關(guān)并拔掉輸入電源線。

4.5、電源輸入插座

 安裝位置：如圖4—1—⑤。

 功    能：提供儀器工作電源。(AC 220V±10%)

 接線方法：使用標(biāo)準(zhǔn)插座與市電或發(fā)電機(jī)相連接。

 注    意：電源插座內(nèi)部帶有保險(xiǎn)管保護(hù)裝置，不正常情況下可燒毀保險(xiǎn)管保使儀器斷電，保護(hù)儀器內(nèi)部。  

4.6、標(biāo)準(zhǔn)電容器輸入插座

 安裝位置：如圖4—1—⑥。

 功    能：外接標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。

 接線方法：外標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試時(shí)電纜芯線接標(biāo)準(zhǔn)電容測(cè)試端，電纜屏蔽層接標(biāo)準(zhǔn)電容器屏蔽極。外標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試時(shí)不管是正接法還是反接法測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)電容器接線方法不變。此方式用于外接高電壓等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高電壓介質(zhì)損耗測(cè)量。

4.7、試品低壓輸入Cx插座

安裝位置：如圖4—1—⑦。

功    能：正接法時(shí)輸入被試品測(cè)試信號(hào)。

接線方法：插座中心連接黑色信號(hào)線芯線；金屬外殼接黑色信號(hào)線屏蔽層；正接法時(shí)芯線接被試品低壓信號(hào)端，若被試品低壓信號(hào)端有屏蔽極（如低壓端的屏蔽環(huán)），則可將屏蔽層接于屏蔽極，無(wú)屏蔽極時(shí)屏蔽層懸空。

注   意： · 在啟動(dòng)測(cè)試的過(guò)程中嚴(yán)禁拔下插頭，以防被試品電流經(jīng)人體入地。

· 用標(biāo)準(zhǔn)介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器檢測(cè)正接法精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器，否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。

· 測(cè)試過(guò)程中應(yīng)保證插座中心測(cè)試芯線與被試品低壓端零電阻連接，否則可能引起測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)波動(dòng)。

· 強(qiáng)干擾下拆除接線時(shí)，應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開(kāi)連接，以防感應(yīng)電擊。

4.8、觸摸顯示屏（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間陽(yáng)光暴曬，避免重物擠壓和利器劃傷）

安裝位置：如圖4—1— eq \o\ac(○,8)8。

功    能：全觸摸大屏幕（120mm×90mm）中文顯示，每一步操作清晰明了。

4.9、接地接線柱

 安裝位置：如圖4—1—⑨。

 功    能：儀器保護(hù)接地。

注    意：儀器內(nèi)部自帶接地保護(hù)裝置，測(cè)試中應(yīng)當(dāng)保證可靠接入地網(wǎng)。否則儀器將自動(dòng)產(chǎn)生保護(hù)不開(kāi)始升壓測(cè)試。      

4.10、ES自激輸出

安裝位置：如圖4—1—⑩。功    能：自激輸出，儀器內(nèi)部為自激輸出變壓器的一端（變壓器另一端已接地），自激法測(cè)試CVT介損時(shí)連接到CVT的自激線圈（da）上，dn接地，為CVT提供測(cè)量所需高壓電源。

注   意： 因低壓輸出電流大，應(yīng)采用儀器專用連接線連接到CVT二次繞組并使其接觸良好，選擇正、反接法測(cè)量時(shí)，此輸出關(guān)閉。

4.11、打印機(jī)

 安裝位置：如圖4—1— eq \o\ac(○,11)11。

 功    能：顯示可打印數(shù)據(jù)時(shí)，將光標(biāo)移動(dòng)至“打印”項(xiàng)按確認(rèn)鍵打印。

 注    意：打印機(jī)為全自動(dòng)熱敏打印機(jī)，打印紙寬55mm。更換打印紙時(shí)請(qǐng)使用熱敏打印機(jī)專用打印紙，首先扳起打印機(jī)旁邊角，打開(kāi)打印機(jī)蓋板，然后按順序?qū)⒋蛴〖埛湃氪蛴〖垈}(cāng)內(nèi)并留少許部分在外面，*后合上打印機(jī)蓋板。 

4.12、高壓輸出HV插座  

 安裝位置：如圖4—2—?，外設(shè)保護(hù)門。

 功     能： 儀器變頻高壓輸出；檢測(cè)反接線試品電流；內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器的高壓端。

 接線方法：插座中心連接紅色高壓線芯線；金屬外殼連接紅色高壓線屏           蔽層；正接法時(shí)芯線和屏蔽層都可以作加壓線對(duì)被試品高壓端加壓；反接法時(shí)只能用芯線對(duì)被試品高壓端加壓，若試品高壓端有屏蔽極（如高壓端的屏蔽環(huán)），則可將屏蔽層接于屏蔽極，無(wú)屏蔽極時(shí)屏蔽層懸空。

 注    意：· 在啟動(dòng)測(cè)試的過(guò)程中此插座帶有高壓有觸電危險(xiǎn)，優(yōu)良禁止觸碰高壓插座及與之相連的相關(guān)設(shè)備。

· 用標(biāo)準(zhǔn)介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器檢測(cè)正接法精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器，否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。

測(cè)試過(guò)程中應(yīng)保證插座中心紅色高壓線芯線與被試品高壓端零電阻連接，否則可能引起測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)波動(dòng)。

五、使用說(shuō)明

5.1、主菜單

打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，進(jìn)入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)的測(cè)試選項(xiàng)進(jìn)行測(cè)量。

※ 注：  儀器啟動(dòng)測(cè)試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī)，不要按復(fù)位。

5.2、一般測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“一般測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等一般測(cè)試菜單（如圖5—2）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—3）進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。

分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單，進(jìn)入測(cè)試菜單。測(cè)試過(guò)程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。開(kāi)始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的測(cè)試頻率自動(dòng)變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—4）；測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。

注   意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。

5.3、CVT測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點(diǎn)擊主界面“CVT測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等CVT測(cè)試菜單（如圖5—5）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測(cè)試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單，進(jìn)入測(cè)試菜單（如圖5—7）。測(cè)試過(guò)程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。開(kāi)始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動(dòng)變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—8）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。

注    意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。

5.4、CVT變比測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入CVT測(cè)試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測(cè)試”，然后返回開(kāi)始測(cè)試界面（如圖5—9），長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量（如圖5—10），測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—11）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。  

5.5、正反同測(cè)

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入正反同測(cè)菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測(cè)試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—13）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。

5.6、LCR測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等LCR測(cè)試菜單。

然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面。長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—14）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。

5.7、絕緣測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等絕緣測(cè)試菜單。然后可選擇測(cè)試方式為正接法或反接法，選擇合適的測(cè)試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測(cè)試。

5.8、數(shù)據(jù)查詢

在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動(dòng)光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測(cè)量時(shí)間的先后所排列的，第000個(gè)數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個(gè)數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁(yè)至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號(hào)上，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。

5.9、參數(shù)設(shè)置

打開(kāi)儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時(shí)間設(shè)置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單（如圖5—18）后，點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時(shí)” 、“分” 、“秒” ，*后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設(shè)置，點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面。

※ 注：

所有圖片并非實(shí)物的全部描敘，請(qǐng)以實(shí)際儀器界面為主，僅做參考。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開(kāi)始設(shè)置。